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固维LCR-8200/A系列高频LCR测试仪

产品简介

LCR-8220/8220A 固维LCR-8200/A系列高频LCR测试仪,其频率范围为 1MHz 至 30MHz ,能精确测量电感、电容、电阻等关键参数,基本精度达 0.1%,50000 计数分辨率保障数据精准。具备自动元件识别功能,支持 2 线或 5 线测量模式。提供 AC 0.3V/0.7V/1Vrms 和 DC±1V 可选测试电平,适配不同元件。设有 USB 接口,便于数据传输与远程操控。

产品型号:LCR-8220/8220A
更新时间:2025-03-01
厂商性质:经销商
访问量:111
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品牌GWINSTEK/中国台湾固纬产地类别国产
类型高速LCR测量仪测量准确度±0.08%%
测量频率10Hz-30MHzHz测量速度最快:2.5ms(>10kHz),快速:50ms(>20Hz),中速:100ms
外形尺寸346(W) x145(H) x 335(D)mm重量约3.3kg
应用领域电子/电池,航空航天,汽车及零部件,电气,综合
LCR-8220/8220A固维LCR-8200/A系列高频LCR测试仪的详细技术参数、性能特点:
LCR-8220/8220A固维LCR-8200/A系列高频LCR测试仪,是应对高频电子元件复杂测量需求的得力工具,在电子领域的研发、生产等环节发挥着关键作用。
一、全面的测量能力
频率覆盖特性:频率范围设定在 1MHz 至 30MHz,这一区间对众多高频电子元件而言意义重大。在无线通信领域,如蓝牙、ZigBee 等低功耗无线通信模块,其内部的电感、电容元件工作在该高频段,元件参数的精准测量对优化通信模块性能、保障信号稳定传输至关重要。LCR - 8220/8220A 可在此频率范围内精确测量元件参数,助力工程师深入了解元件特性,提升无线通信产品的质量与稳定性。例如在蓝牙 4.0 模块设计中,通过该测试仪对关键电感、电容的测量,能有效改善模块的抗干扰能力和通信距离。
多参数精准测定:能够精确测量电感(L)、电容(C)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、品质因数(Q)、损耗因数(D)、相位(θ)以及直流电阻(Rdc)等多种参数。以高频电容为例,在开关电源的滤波电路中,电容的容值、损耗因数等参数直接影响电源输出的稳定性和纯净度。LCR - 8220/8220A 可同时准确测量这些参数,为开关电源的设计优化提供关键数据支持,确保电源在高频工作状态下高效运行。
二、高精度与高分辨率
高分辨率显示:主显示器和辅助显示器均具备 50,000 计数分辨率,基本精度可达 0.1%。在测量高精度电感时,高分辨率能清晰呈现电感值的细微变化,0.1% 的高精度确保测量结果与真实值高度吻合。在医疗电子设备、航空航天电子系统等对元件参数精度要求高的领域,LCR - 8220/8220A 的高精度测量能力可有效保障设备的可靠性和稳定性。例如在医用核磁共振成像设备的射频电路中,对电感、电容等元件参数的微小偏差都可能影响成像质量,该测试仪的高精度测量为设备的精准运行提供了坚实保障。
灵活测量模式与速度:支持 2 线或 5 线测量方式,可根据不同元件类型和测试场景灵活选择。测量速度具有多种模式,快速模式下每秒可进行 10 次测量,适用于大规模生产线上元件的快速筛选,能大幅提高检测效率,降低生产成本。在电子元件生产企业的自动化生产线上,利用快速测量模式可快速排查出大量元件中的不良品。而在研发测试场景中,当对测量精度要求高且时间相对充裕时,可选择慢速模式,每秒测量 2.5 次,以获取更为精准的测量结果,满足科研人员对新型电子元件特性研究的需求。
三、丰富实用的功能特性
自动元件识别:具备智能的自动元件类型识别功能,进入自动 LCZ 模式后,仪器可迅速判断接入的是电感、电容还是电阻元件,并自动匹配测量模式。在电子维修工作中,面对复杂电路板上种类繁多的元件,维修人员使用 LCR - 8220/8220A 时,无需手动繁琐判断元件类型并设置测量模式,仪器的自动识别功能极大简化了操作流程,能够快速确定故障元件参数,显著提高维修效率。例如在维修智能家电主板时,可快速准确地测量各类电感、电容元件,帮助维修人员快速定位故障元件。
可选测试电平:提供 AC 0.3V/0.7V/1Vrms 和 DC±1V 等多种可选测试电平。不同电子元件的耐压特性差异显著,对于低耐压电容,选择较低的测试电平可有效避免因电压过高而损坏元件;而对于高耐压元件,选用合适的高电平进行测试,能够使测量结果更准确地反映元件在实际工作电压下的性能。在电容器生产过程中,针对不同耐压等级的电容产品,可灵活调整测试电平,确保测量的准确性与元件的安全性。例如在生产用于手机主板的低耐压贴片电容时,可选择 AC 0.3V 的测试电平进行测量,而对于工业变频器中使用的高耐压电解电容,则可选用 DC 1V 的测试电平。
比较与数据保持:配备比较功能,用户可预先设定元件参数的合格范围,在测量过程中,仪器能够快速判断元件是否符合预设标准。在电子元件批量生产检测环节,通过该功能可快速筛选出不良品,有效提高生产质量控制效率。数据保持功能可将测量数据锁定,方便用户在复杂实验环境或繁忙的生产线上及时记录和查看数据,避免数据遗漏。在实验过程中,研究人员可随时锁定关键测量数据,便于后续深入分析。例如在对新型电子元件进行多组实验测量时,可利用数据保持功能记录不同条件下的测量数据,为研究元件性能变化规律提供依据。
四、便捷的接口与软件支持
丰富接口配置:配备 USB 接口,包括 USB - HID 和 USB - VCOM 接口。借助 USB - HID 接口,可方便地与计算机等设备连接,实现高效的数据传输与远程控制。在自动化测试系统中,计算机通过该接口向 LCR - 8220/8220A 发送指令,控制仪器完成一系列测量操作,并实时获取测量数据进行分析处理。USB - VCOM 接口则为设备间的通信提供了便利,有助于其融入复杂的自动化测试生产线,实现多设备协同工作,提升整体测试效率。在大规模电子元件生产企业的自动化测试车间中,多台 LCR - 8220/8220A 可通过 USB 接口与中央控制系统连接,实现自动化、智能化的批量测试。
软件支持:提供免费的 PC 软件,且软件指令与 SCPI(Standard Commands for Programmable Instruments)兼容。这使得用户能够根据自身需求编写个性化软件,实现数据采集与分析的定制化。在科研项目中,研究人员可利用该兼容性,编写特定软件,对测量数据进行深度挖掘与分析,探索元件参数与特定实验条件之间的内在关联规律,为科研工作提供有力的数据支持与决策依据。例如在研究新型半导体材料制成的电子元件特性时,可编写专门的软件对大量测量数据进行统计分析,找出元件参数与材料特性、环境因素之间的关系,为材料的优化和元件的改进提供参考。

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