Hitachi/日立手持式X射线荧光（HHXRF）分析仪X-MET8000系列，搭载 SDD 硅漂移探测器，整机约 1.5kg，IP54 防护等级，支持现场无损快速检测。可完成合金牌号识别、PMI 材质核验、废金属分拣、贵金属分析，多型号适配不同元素检测需求。配备中文触控屏，续航优异，可存储十万条数据，支持 USB、Wi‑Fi 导出 PDF、Excel 报告，适用于工厂质检、废料回收等现场

Hitachi/日立手持式X射线荧光（HHXRF）分析仪X-MET8000系列详细介绍：

日立X‑MET8000系列手持式X射线荧光分析仪，归属日立高新技术，原牛津仪器工业分析产品线，整机英国生产，分为Smart、Optimum、Expert三款型号。设备重量约1.5kg，具备IP54防尘防溅防护等级，通过MIL‑STD‑810G环境可靠性测试，可适应车间、废料堆场、户外等复杂工况，实现现场无损快速元素及合金牌号检测。

主要技术参数

核心检测单元

探测器：大面积SDD硅漂移探测器X射线光管：Rh靶；Smart为40kV，Optimum可选40kV/50kV，Expert配置50kV滤光配置：Smart采用单固定滤光片；Optimum、Expert搭载6位自动滤光轮元素分析范围：Smart为K‑U，不支持Mg、Al、Si轻元素检测；Optimum、Expert支持Mg‑U全元素分析可选HERO耐热窗口，样品最高检测温度可达400℃，可直接检测高温工件。

整机硬件参数

显示屏：4.3英寸彩色触控屏，支持戴手套操作，内置简体中文等多语言整机尺寸：93mm×210mm×272mm工作环境温度：‑10℃~+50℃供电：锂离子电池，单块电池续航10‑12小时存储：16G存储空间，可存储十万组检测数据与光谱图谱数据接口：WiFi、蓝牙、USB，可输出PDF、Excel格式检测报告，支持权限密码管理。

校准与牌号库

采用FP基本参数无标样校准法，Expert型号支持可溯源经验系数校准。内置1600余种合金牌号库，兼容AISI、DIN、JIS、GB常用标准，支持用户自定义新增、修改牌号。配备多重红外感应射线安全防护，探头脱离样品自动切断X射线输出。

各型号区别

1.X‑MET8000 Smart：入门型号，单滤光片，检测范围K‑U，侧重合金检测、废料分拣，摄像头为选配。2.X‑MET8000 Optimum：通用型号，6位滤光轮，Mg‑U全元素分析，支持轻元素检测，可选配小光斑准直器、摄像头。3.X‑MET8000 Expert：旗舰型号，50kV光管，6位滤光轮，标配内置摄像头，自动切换经验校准，检测精度较好。

可选配件

HERO耐热窗口、内置定位摄像头、小光斑准直器、窗口保护防护罩、蓝牙便携打印机、台式支架、GPS定位模块、硬质防护箱。

Hitachi/日立手持式X射线荧光（HHXRF）分析仪X-MET8000系列应用场景

1.PMI材质可靠性鉴定：压力容器、管道、阀门、各类金属零部件进厂检验与在役复检，核验不锈钢、合金钢、工具钢、铜合金牌号，规避材质混用风险。2.废金属回收分拣：废钢、废铜等物料现场快速分选，区分201、304、316等不锈钢及各类合金材料。3.制造业来料质检：原材料入库检验、半成品及成品材质复核，供应链来料材质筛查。4.贵金属检测：金、银、铂、钯等贵金属样品无损快速成分筛查。5.拓展应用（Optimum、Expert）：土壤环境筛查、矿石矿物元素分析，可对块状、粉末、颗粒样品开展现场检测。

常规合金样品3‑10秒即可输出元素百分含量与合金牌号结果，样品无需复杂前处理，满足各类现场无损检测需求。