LCR-8201固维LCR-8200/A系列高频LCR测试仪，专为高频元件测量需求打造。频率范围 1MHz 至 5MHz，能精准测定电感、电容、电阻等关键参数，基本精度达 0.1%，50000 计数分辨率保障数据精准。拥有自动元件识别功能，支持 2 线或 5 线测量模式。提供多种可选测试电平，适配不同元件。配备 USB 接口，便于数据传输与远程操控，助力电子元件生产检测、高频电路研发等工作。

产品型号：LCR-8201

更新时间：2025-03-02

厂商性质：经销商

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电力电子测试仪器

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品牌	GWINSTEK/中国台湾固纬	产地类别	国产
类型	高速LCR测量仪	测量准确度	±0.08%%
测量频率	10Hz-5MHzHz	测量速度	最快:2.5ms(>10kHz),快速:50ms(>20Hz),中速:100ms
外形尺寸	346(W) x145(H) x 335(D)mm	重量	约3.3kg
应用领域	电子/电池,航空航天,汽车及零部件,电气,综合

LCR-8201固维LCR-8200/A系列高频LCR测试仪的详细技术参数、性能特点：

LCR-8201固维LCR-8200/A系列高频LCR测试仪，凭借其精准的测量能力和丰富的功能特性，在高频电子元件测量领域发挥着重要作用，为电子产业的多个环节提供有力支持。

一、核心测量能力

（一）频率覆盖特性

该测试仪频率范围为 1MHz 至 5MHz，这一频段在诸多高频电子元件应用场景中占据关键地位。在射频识别（RFID）技术中，部分低频段 RFID 标签及读写器的工作频率就处于此区间。读写器内的电感、电容元件参数的精准度，直接影响标签的识别距离、读写速度以及系统的抗干扰能力。LCR - 8201 能够在此频率范围内精确测量元件参数，助力工程师优化 RFID 系统的电路设计，提升系统性能。例如，在优化超市货物管理用的 RFID 读写器性能时，通过测试仪精准测定相关电感、电容参数，可有效扩大标签识别范围，减少误读率。

（二）多参数测量功能

能够精确测量电感（L）、电容（C）、电阻（R）、电抗（X）、阻抗（Z）、品质因数（Q）、损耗因数（D）、相位（θ）以及直流电阻（Rdc）等多种参数。以高频电感在射频功率放大器中的应用为例，电感值与品质因数 Q 值共同影响放大器的功率输出效率和信号失真度。LCR - 8201 能够同时准确测量这些参数，为射频功率放大器的设计优化提供关键数据支持，确保在高频信号放大过程中，放大器能够高效、低失真地工作。

二、高精度与高分辨率呈现

（一）高分辨率显示

主显示器和辅助显示器均具备 50,000 计数分辨率，基本精度可达 0.1%。在测量高精密电容时，高分辨率能清晰呈现电容值的细微变化，0.1% 的高精度确保测量结果与真实值高度接近。在医疗电子设备，如核磁共振成像（MRI）设备的射频发射电路中，对电容、电感等元件参数精度要求高，微小偏差都可能影响成像质量和诊断准确性。LCR - 8201 的高精度测量能力，能够有效保障医疗电子设备的性能稳定性，为精准医疗提供可靠保障。

（二）灵活测量模式与速度

支持 2 线或 5 线测量方式，可根据不同元件类型和测试场景灵活选择。测量速度具备多种模式，快速模式下每秒可进行 10 次测量，适用于大规模生产线上元件的快速筛选，大幅提高检测效率，降低生产成本。在电子元件生产企业的自动化生产线上，利用快速测量模式可快速排查出大量元件中的不良品。而在研发测试场景中，当对测量精度要求高且时间相对充裕时，可选择慢速模式，每秒测量 2.5 次，以获取更为精准的测量结果，满足科研人员对新型电子元件特性研究的需求。

三、丰富实用功能特性

（一）自动元件识别

具备智能的自动元件类型识别功能，进入自动 LCZ 模式后，仪器可迅速判断接入的是电感、电容还是电阻元件，并自动匹配测量模式。在电子维修工作中，面对复杂电路板上种类繁多的元件，维修人员使用 LCR - 8201 时，无需手动繁琐判断元件类型并设置测量模式，仪器的自动识别功能极大简化了操作流程，能够快速确定故障元件参数，显著提高维修效率。例如，在维修车载电子设备主板时，可快速准确地测量各类电感、电容元件，帮助维修人员快速定位故障元件。

（二）可选测试电平

提供 AC 0.3V/0.7V/1Vrms 和 DC±1V 等多种可选测试电平。不同电子元件的耐压特性差异显著，对于低耐压电容，选择较低的测试电平可有效避免因电压过高而损坏元件；而对于高耐压元件，选用合适的高电平进行测试，能够使测量结果更准确地反映元件在实际工作电压下的性能。在电容器生产过程中，针对不同耐压等级的电容产品，可灵活调整测试电平，确保测量的准确性与元件的安全性。例如，在生产用于手机摄像头模组的低耐压电容时，可选择 AC 0.3V 的测试电平进行测量，而对于工业逆变器中使用的高耐压电解电容，则可选用 DC 1V 的测试电平。

（三）比较与数据保持

配备比较功能，用户可预先设定元件参数的合格范围，在测量过程中，仪器能够快速判断元件是否符合预设标准。在电子元件批量生产检测环节，通过该功能可快速筛选出不良品，有效提高生产质量控制效率。数据保持功能可将测量数据锁定，方便用户在复杂实验环境或繁忙的生产线上及时记录和查看数据，避免数据遗漏。在实验过程中，研究人员可随时锁定关键测量数据，便于后续深入分析。例如，在对新型电子元件进行多组实验测量时，可利用数据保持功能记录不同条件下的测量数据，为研究元件性能变化规律提供依据。

四、便捷接口与软件支持

（一）丰富接口配置

配备 USB 接口，包括 USB - HID 和 USB - VCOM 接口。借助 USB - HID 接口，可方便地与计算机等设备连接，实现高效的数据传输与远程控制。在自动化测试系统中，计算机通过该接口向 LCR - 8201 发送指令，控制仪器完成一系列测量操作，并实时获取测量数据进行分析处理。USB - VCOM 接口则为设备间的通信提供了便利，有助于其融入复杂的自动化测试生产线，实现多设备协同工作，提升整体测试效率。在大规模电子元件生产企业的自动化测试车间中，多台 LCR - 8201 可通过 USB 接口与中央控制系统连接，实现自动化、智能化的批量测试。

（二）软件支持

提供免费的 PC 软件，且软件指令与 SCPI（Standard Commands for Programmable Instruments）兼容。这使得用户能够根据自身需求编写个性化软件，实现数据采集与分析的定制化。在科研项目中，研究人员可利用该兼容性，编写特定软件，对测量数据进行深度挖掘与分析，探索元件参数与特定实验条件之间的内在关联规律，为科研工作提供有力的数据支持与决策依据。例如，在研究新型陶瓷材料制成的电感元件特性时，可编写专门的软件对大量测量数据进行统计分析，找出元件参数与材料特性、环境因素之间的关系，为材料的优化和元件的改进提供参考。

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